![[Pan-IR] Acquisition d'un imageur FTIR au sein de la plateforme PANOPLY](local/cache-vignettes/L220xH151/arton775-4e4e2.jpg "[Pan-IR] Acquisition d'un imageur FTIR au sein de la plateforme PANOPLY")
La région Ile-de-France (Domaine d’Intérêt Majeur Matériaux Anciens et Patrimoniaux) et l’Université Paris-Sud (appel Équipement de Recherche Mutualisé) viennent de soutenir l’achat d’un imageur FTIR à GEOPS. La plateforme Analytique Géosciences Paris Saclay (PANOPLY), pilotée par le laboratoire de Géosciences Paris-Sud (GEOPS) et le Laboratoire des Sciences du Climat et de l’Environnement (LSCE), met à la disposition de la communauté scientifique un éventail de ressources de hautes technologies pour les analyses géochimiques et minéralogiques dans le domaine des Sciences de la Terre, du Climat et de l’Environnement. Le développement, ces dernières années, de techniques de mesures géochimiques de plus en plus localisées au sein de la plateforme PANOPLY a fait émerger un besoin de caractérisation minéralogique fine et non-destructive de divers géomatériaux tels que matériaux de constructions, argiles ou fossiles. Une valorisation optimale des analyses géochimiques in situ nécessite en effet une phase de pré-caractérisation de l’échantillon : visualisation de la géométrie et de l’organisation générale, identification des phases minéralogiques et organiques présentes, homogénéité/hétérogénéité des échantillons, sélection des zones d’intérêt, et. Ces opérations se doivent donc d’être non-invasives et réalisées en routine sur un grand nombre d’échantillons, en amont des analyses localisées spécifiques et avec une résolution compatible avec ces dernières (quelques microns). Pour répondre à ce besoin, ce projet vise à équiper le service de spectroscopie infrarouge de la plateforme, déjà doté d’un spectromètre FT-IR sur poudre, en lui associant un module imageur compatible, ce dispositif venant compléter les diverses techniques de caractérisations minéralogiques actuellement à disposition (microscopie électronique et analyse élémentaire, microscopie de force atomique, diffraction RX, etc.).
Voir en ligne : DIM MAP